Journée technique tomographie X – le 26/05/2016
Résumé :
La tomographie X est de plus en plus sollicitée par les industriels. Ses performances se sont accrues ces dernières années, et la facilité apparente en font une méthode particulièrement appréciée.
Néanmoins, comme toutes les méthodes de CND, elle nécessite un degré avancé de connaissances.
Cette journée est donc l’occasion de faire le point sur les limites et avancées, ainsi que de découvrir des applications remarquables.
Programme de la journée :
9h15 : Accueil – café – thé – viennoiseries
9h30 : Introduction : télécharger
Programme : télécharger – Liste des participants : télécharger
9h45 : Le tomoscanner, un outil complémentaire pour des pièces de grande taille ou de grandes séries, Yvan Richaudeau (Image ET) : télécharger
10h15 : GERIM2/RXCT : une plateforme versatile d’imagerie X robotisée pour l’inspection de composants de grandes dimensions, Caroline Vienne (CEA List) : télécharger
10h45 : La micro-tomographie synchrotron, un outil de contrôle 3D unique, Olivier Guiraud (Novitom) : télécharger
11h15 : Compression des images, Catherine Bellet (Ysitcom – Partelec) télécharger
11h45 : Rappels règlementaires et dernières évolutions du Camari, Alain Fallot (IRSN) : télécharger
12h15 : Cocktail déjeunatoire et échanges autour de :
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14h15 : Tomographie Térahertz, exemples de cas, Thierry Antonini (T-Waves Technologies) : télécharger
14h45 : L’apport de la tomographie dans la fabrication « ALM » (Additive layer manufacturing), Sylvain Genot (Tomoadour) : télécharger
15h15 : La caractérisation de fissures par tomographie à rayons X, Sébastien Brzuchacz (Cetim) : télécharger
15h45 : Détecteur spectrométrique hautes performances et applications en tomographie, Nicoleta Galatanu (CEA Leti) : télécharger
16h15 : Conclusion
16h30 : Fin